Röntgenfluorescentiespectrometer (XRF) is een snelle, niet-destructieve meetmethode voor materialen, voornamelijk gebruikt voor analyse van chemische, elementaire en sporenelementen, en heeft de mogelijkheid om bijna elk element van magnesium tot uranium niet-destructief te kwantificeren of te kwalificeren. Het wordt veel gebruikt in elementaire analyse en chemische analyse, vooral bij het onderzoek en onderzoek van metalen, glas, keramiek en bouwmaterialen, geochemie, forensisch onderzoek, archeologie en kunstwerken, zoals olieverfschilderijen en muurschilderingen. In vergelijking met andere analytische technieken vereist XRF geen of zeer weinig monstervoorbereiding en is het goedkoop.
